020-87026501
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由試驗(yàn)結(jié)果可知，控制樣品各分析元素的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD均小于2.00%(n=11)，表明采用XRF分析DD6合金中的Al、Co、Cr、Re、Nb、Mo、Hf、Ta、W元素含量時(shí)，方法具有較高的精密度。日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀 ZSX Primus III+在試驗(yàn)中對(duì)分析復(fù)雜樣品提供準(zhǔn)確的結(jié)果，其具備的SQX基本參數(shù)軟件和EZ掃描軟件，能夠相互結(jié)合提供快速的XRF的結(jié)果。
本文標(biāo)簽： X射線熒光光譜、日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜、光譜DD6單晶合
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